Anwendungen von Borcarbid (B₄C) in der Halbleiterindustrie

Anwendungen von Borcarbid (B₄C) in der Halbleiterindustrie

1. Hochpräzisions-Läpp- und Polier-Schleifpulver

  • Läppsuspension zum Schneiden, Ausdünnen der Rückseite und Feinpolieren von monokristallinen Siliziumwafern; geringe Beschädigung der Oberfläche, hohe Abtragsrate, frei von Schwermetallverunreinigungen.
  • Poliermittel für SiC/GaN-Leistungshalbleitersubstrate (IGBT, MOSFET, HF-Chips), ideal für die harte Planarisierung von Kristallen mit großer Bandlücke.
  • CMP-Schleifmittel für bordotiertes Polysilizium-Hartmaskenmaterial in der modernen DRAM-Fertigung, das eine hohe Selektivität gegenüber Oxid-/Nitrid-Stoppschichten bietet.
  • Läpppaste, Diamantscheibenabrichter, freies Schleifmittel zum Scheibenschneiden.

2. Feste Borquelle für die Ionenimplantation

Hochreines B₄C dient als feste Borquelle für Ionenimplantationsanlagen zur Erzeugung von B⁺-Ionen für die p-Dotierung von Siliziumwafern, die für Transistoren, Speicher- und Logikchips unerlässlich ist. Es ist hochtemperaturstabil und gewährleistet eine gleichbleibende Dotierungsdosis.

3. Gesinterte Borcarbid-Keramikkomponenten für Ätz- und Beschichtungsanlagen

Hervorragende Beständigkeit gegen Fluor-/Chlor-Plasmaerosion, geringe Partikelbildung, lange Lebensdauer:
  • Fokusringe für ICP/RIE-Trockenätzgeräte
  • Duschköpfe / Gasverteilerplatten für PECVD-Kammern
  • Kammerauskleidungen, Wärmedämmhülsen, elektrostatische Spannfutter
  • Mikrowellen-/IR-Fenster, Hochtemperatur-Waferträger, DC-Isolierstecker

4. Hochreine B₄C-Sputtertargets

Für PVD-Beschichtungen: plasmabeständige Hartmasken-Dünnschichten, Strahlungsschutzbeschichtungen, verschleißfeste Schutzschichten auf Waferhalterungen.

5. Spezielle elektronische Komponenten und Strahlungsdetektionskomponenten

  • Hochtemperatur-Halbleiterbauelemente mit großer Bandlücke, die bei Temperaturen über 2000°C betrieben werden.
  • B₄C-Graphit-Thermoelemente (max. 2300°C) für Wafer-Glüh- und Epitaxieöfen.
  • Festkörper-Neutronendetektorchips für die Zuverlässigkeitsprüfung von Halbleiterstrahlung.
  • Neutronenschutzauskleidungen für Ionenimplantations- und Chipbestrahlungslabore.
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